光驱性能参数主要是有哪些1、传输速率
数据传输速率（SustainedDataTransferRate）是CD—ROM光驱最基本的性能指标，该指标直接决定了光驱的数据传输速度，通常以KB/s来计算。最早出现的CD—ROM的数据传输速率只有150KB/s，当时有关国际组织将该速率定为单速，而随后出现的光驱速度与单速标准是一个倍率关系，比如2倍速的光驱，其数据传输速率为300KB/s，4倍速为600KB/s，8倍速为1200KB/s，12倍速时传输速率已达到1800KB/s，依此类推。CD—ROM主要有CLV（恒定线速度）、CAv（恒定角速度）及P—CAV（局部恒定角速度）3种读盘方式。
其中，CLv技术（ConstantLinemVelocity，恒定线速度）是12倍速以下光驱普遍采用的一种技术。CLV技术指从盘片的内道（内圈）向外道移动过程中，单位时间内读过的轨道弧线长度相等。由于CD盘片的内环半径比外环小，因此检测光头靠近内环时的旋转速度自然比靠近外环时快，也只有这样才能满足数据传输速率保持不变这一要求。
CAV技术（ConstantAngularVelocity，恒定角速度）是20倍速以上光驱常用的一种技术。CAV技术的特点是为保持旋转速度恒定，其数据传输速率是可变的。即检测光头在读取盘片内环与外环数据时，数据传输速率会随之变化。比如一个20倍速产品在内环时可能只有10倍速，随着向外环移动数据传输速率逐渐加大，直至在最外环时可达到20倍速。 P－CAV技术（PartialCAV：局部恒定角速度）则是融合了CLV和CAV两者精华形成的一种技术。当检测光头读盘片的内环数据时，旋转速度保持不变，使数据传输速率得以增加；而当检测光头读取外环数据时，则对旋转速度进行提升。
2、CPU占用时间
CPU占用时间（CPIULoading）指CD—ROM光驱在维持一定的转速和数据传输速率时所占用CPU的时间。该指标是衡量光驱性能的一个重要指标，从某种意义上讲，CPU的占用率可以反映光驱的BIOS编写能力。优秀产品可以尽量减少CPU占用率，这实际上是一个编写BIOS的软件算法问题，当然这只能在质量比较好的盘片上才能反映。如果碰上一些磨损非常严重的光盘，CPU占用率自然就会直线上升，如果用户想节约时问，就必须选购那些读“磨损严重光盘”的能力较强、CPu占用率较低的光驱。从测试数据可以看出，在读质量较好的盘片时，最好的与最差的成绩相差不会超过两个百分点，但是在读质量不好的盘片时，差距就会增大。
3、高速缓存
这个指标通常会用Cache表示，它的容量大小直接影响光驱的运行速度。其作用就是提供一个数据缓冲，它先将读出的数据暂存起来，然后一次性进行传送，目的是解决光驱速度不匹配问题。
4、平均访问时间
平均访问时间（AverageAccessTime）即“平均寻道时间”，作为衡量光驱性能的一个标准，是指从检测光头定位到开始读盘这个过程所需要的时问，单位是ms，该参数与数据传输速率有关。
5、容错性
尽管目前高速光驱的数据读取技术已经趋于成熟，但仍有一些产品为了提高容错性能，采取调大激光头发射功率的办法来达到纠错的目的，这种办法的最大弊病就是人为地造成激光头过早老化，减少产品的使用寿命。
6、稳定性
稳定性是指一部光驱在较长的一段时间（至少一年）内能保持稳定的、较好。